«Физические методы исследования» Вопросы для устного опроса



Скачать 72,37 Kb.
Дата22.10.2016
Размер72,37 Kb.
«Физические методы исследования»
Вопросы для устного опроса:

- Природа основных физических явлений, используемых для исследований структуры и свойств химических веществ;

- Перечислите известные физические методы исследования вещества;

- Задачи, решаемые с помощью физических методов исследования вещества.


- Природа основных физических явлений, используемых для исследований структуры и свойств химических веществ;

- Возможности ЯМР-спектроскопии для аналитических и научных исследований;

- Абсорбционная спектроскопия в видимой области. Возможности и ограничения;

-Техника спектроскопии в УФ-области;

- Практическое использование количественного люминесцентного анализа;

- Значение исследований в инфракрасной области спектра;

- Использование лазеров в спектроскопии КР;

- Теория взаимодействия рентгеновского излучения с кристаллом;

- Характеристика рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии;

- Применение методов колебательной спектроскопии для качественного и количественного анализов;

- Физическая основа метода масс-спектрометрии;

- Различие между газовой и жидкостной хроматографией;

- Место полярографии при исследовании природных объектов;

- Значение рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии в исследовании состояния атомов в веществе;

- Характеристика сканирующей туннельной микроскопии.

Темы для дискуссий:

- Возможности и ограничения ЯМР-спектроскопии для аналитических исследований;

- Возможности и ограничения абсорбционной спектроскопии в видимой области.;

- Особенности исследований в инфракрасной области спектра;

- Методы колебательной спектроскопии для качественного и количественного анализа природных объектов;

- Проблемы дистанционных физических методов анализа;

- Критерии выбора объектов исследования в газовой и жидкостной хроматографии.

3) Промежуточная аттестация - зачет

Перечень вопросов к зачету



  1. Спектроскопические, дифракционные, электрические и магнитные методы исследования. Энергетические характеристики различных методов.

  2. Постановка конкретной аналитической задачи. Критерии выбора метода (методики) анализа.

  3. Спектры излучения и поглощения.

  4. Эмиссионная УФ спектроскопия как метод исследования двухатомных молекул. Характеристики электронных состояний многоатомных молекул.

  5. Спектроскопия в видимой и УФ областях.

  6. Люминесценция (флуоресценция и фосфоресценция). Фотофизические процессы в молекуле.

  7. Основные характеристики люминесценции. Тушение люминесценции. Практическое использование количественного люминесцентного анализа.

  8. Абсорбционная спектроскопия в видимой и УФ областях как метод исследования электронных спектров многоатомных молекул и установление структуры химических соединений.

  9. Электронные спектры поглощения различных классов соединений.

  10. Спектры сопряженных систем и пространственные эффекты в электронных спектрах поглощения.

  11. Спектроскопия в инфракрасной области спектра. Квантовомеханический подход к описанию колебательных спектров.

  12. ИК и КР спектры. Интенсивность полос колебательных спектров. Сопоставление ИК и КР спектров и выводы о симметрии молекулы.

  13. Виды колебаний в ИК спектрах. Характеристичность нормальных колебаний. Специфичность колебательных спектров. Исследования динамической изомерии, равновесий, кинетики реакций.

  14. Применение методов колебательной спектроскопии для качественного и количественного анализов и другие применения в химии. Техника и методики ИК спектроскопии.

  15. Микроволновая спектроскопия. Условия получения микроволнового спектра полярных молекул.

  16. Методы ядерного магнитного резонанса (ЯМР). Химические сдвиги в спектре ЯМР, их природа и их измерения. Спин-спиновое взаимодействие ядер и его влияние на спектр ЯМР. Использование спин-спинового взаимодействия для определения строения молекул.

  17. Блок-схема спектрометра ЯМР, типы спектрометров. Характер образцов. Современные ЯМР-спектрометры.

  18. Спектры ЭПР. Сверхтонкая структура линий ЭПР. Число компонент мультиплета, распределение интенсивности. Константа СТС. Приложение метода ЭПР в химии.

  19. Рентгеновская эмиссионная и абсорбционная спектроскопия. Природа рентгеновских спектров. Края поглощения. Взаимосвязь рентгеновских спектров поглощения и характеристических спектров испускания.

  20. Анализ по вторичному рентгеновскому излучению (рентгенофлуоресцентный). Закон Брэгга - Вульфа. Рентгеноабсорбционный анализ.

  21. Мессбауровская спектроскопия. Резонансная ядерная флуоресценция. Возможности c:\users\local settings\temporary internet files\админ1\рабочий стол\программы\примерная программа дисциплины физические методы исследования.files\gamma.lc.gif-резонансной спектроскопии в химии и ограничения ее применения.

  22. Оже-электронная спектроскопия (ОЭС). Физические основы метода ОЭС. Применение ОЭС для анализа химического состава поверхностей твердых тел.

  23. Электронография. Уравнения потока электронов для плоских и сферических волн. Рассеяние электронов жесткой молекулой.

  24. Рентгеноструктурный анализ.

  25. Методы масс-спектрометрии. Физическая основа метода. Методы ионизации. Масс анализаторы. Детекторы масс.

  26. Применение масс-спектрометрии. Идентификация вещества. Роль разрешения, потенциалов появления, методов ионизации, метастабильных ионов. Таблицы массовых чисел. Соотношение изотопов. Корреляция между молекулярной структурой и масс-спектрами.

  27. Метод хроматомасс-спектрометрии, особенности его технической реализации и достоинства регистрации. Устройство хроматомасс-спектрометра. Количественный хроматографический анализ.

  28. Вторично-ионная масс-спектроскопия (метод SIMS). Тандемная масс-спектрометрия. Принципиальная схема масс-спектрометра.

Перечень вопросов к экзамену



Спектроскопические, дифракционные, электрические и магнитные методы исследования. Энергетические характеристики различных методов.

  1. Постановка конкретной аналитической задачи. Критерии выбора метода (методики) анализа.

  2. Спектры излучения и поглощения. Эмиссионная УФ спектроскопия как метод исследования двухатомных молекул. Характеристики электронных состояний многоатомных молекул.

  3. Спектроскопия в видимой и УФ областях. Люминесценция (флуоресценция и фосфоресценция). Фотофизические процессы в молекуле. Основные характеристики люминесценции. Тушение люминесценции. Практическое использование количественного люминесцентного анализа.

  4. Абсорбционная спектроскопия в видимой и УФ областях как метод исследования электронных спектров многоатомных молекул и установление структуры химических соединений.

  5. Электронные спектры поглощения различных классов соединений. Спектры сопряженных систем и пространственные эффекты в электронных спектрах поглощения.

  6. Спектроскопия в инфракрасной (ИК) области спектра. Квантовомеханический подход к описанию колебательных спектров. ИК и КР спектры. Интенсивность полос колебательных спектров. Сопоставление ИК и КР спектров и выводы о симметрии молекулы.

  7. Виды колебаний в ИК спектрах. Характеристичность нормальных колебаний. Специфичность колебательных спектров. Исследования динамической изомерии, равновесий, кинетики реакций.

  8. Применение методов колебательной спектроскопии для качественного и количественного анализов и другие применения в химии. Техника и методики ИК спектроскопии.

  9. Микроволновая спектроскопия. Условия получения микроволнового спектра полярных молекул.

  10. Методы ядерного магнитного резонанса (ЯМР). Химические сдвиги в спектре ЯМР, их природа и их измерения. Спин-спиновое взаимодействие ядер и его влияние на спектр ЯМР. Использование спин-спинового взаимодействия для определения строения молекул.

  11. Блок-схема спектрометра ЯМР, типы спектрометров. Характер образцов. Современные ЯМР-спектрометры.

  12. Спектры ЭПР. Сверхтонкая структура линий ЭПР. Число компонент мультиплета, распределение интенсивности. Константа СТС. Приложение метода ЭПР в химии.

  13. Рентгеновская эмиссионная и абсорбционная спектроскопия. Природа рентгеновских спектров. Края поглощения. Взаимосвязь рентгеновских спектров поглощения и характеристических спектров испускания.

  14. Анализ по вторичному рентгеновскому излучению (рентгенофлуоресцентный). Закон Брэгга - Вульфа. Рентгеноабсорбционный анализ.

  15. Мессбауровская спектроскопия. Резонансная ядерная флуоресценция. Возможности c:\users\local settings\temporary internet files\админ1\рабочий стол\программы\примерная программа дисциплины физические методы исследования.files\gamma.lc.gif-резонансной спектроскопии в химии и ограничения ее применения.

  16. Оже-электронная спектроскопия (ОЭС). Физические основы метода ОЭС. Применение ОЭС для анализа химического состава поверхностей твердых тел.

  17. Электронография. Уравнения потока электронов для плоских и сферических волн. Рассеяние электронов жесткой молекулой.

  18. Рентгеноструктурный анализ. Взаимодействие рентгеновского излучения с кристаллом. Методы исследования структуры монокристаллов – метод Лауэ, метод порошка или дебаеграмм. Рентгенофазовый анализ и его использование для определения соотношений кристаллических фаз в сложных системах.

  19. Методы масс-спектрометрии. Физическая основа метода. Методы ионизации. Масс анализаторы. Детекторы масс.

  20. Применение масс-спектрометрии. Идентификация вещества. Роль разрешения, потенциалов появления, методов ионизации, метастабильных ионов. Таблицы массовых чисел. Соотношение изотопов. Корреляция между молекулярной структурой и масс-спектрами.

  21. Метод хроматомасс-спектрометрии, особенности его технической реализации и достоинства регистрации. Устройство хроматомасс-спектрометра. Количественный хроматографический анализ.

  22. Вторично-ионная масс-спектроскопия (метод SIMS). Тандемная масс-спектрометрия. Принципиальная схема масс-спектрометра.

  23. Обзор хроматографических методов. Качественная информация. Количественный анализ. Газовая и жидкостная хроматография.

  24. Разделение компонентов смесей в колонках в ГЖХ. Насадочные и капиллярные колонки, их параметры. Детекторы. Время удерживания. Применение газо-жидкостной хроматографии. Адсорбционная хроматография.

  25. Электрохимические методы. Полярография, потециометрия и кондуктометрия. Полярография как один из основных методов вольтамперометрии.

  26. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Поглощение рентгеновского излучения в твердых телах.

  27. Атомно-силовая микроскопия. Использование атомно-силового микроскопа для избирательного воздействия на фрагменты наноструктур.

  28. Сканирующая туннельная микроскопия. Зонды для туннельной микроскопии.

  29. Термический анализ. Термогравиметрия (ТГ). Применение ТГ. Дифференциальный термический анализ (ДТА) и дифференциальная сканирующая калориметрия (ДСК). Основы методов и приборы.

  30. Методы сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). Сканирующая туннельная микроскопия.

  31. Компьютеры в аналитической химии: аппаратное и программное обеспечение их сопряжения с приборами. Компьютеризованная лаборатория. Базы аналитических данных.


Поделитесь с Вашими друзьями:


База данных защищена авторским правом ©grazit.ru 2017
обратиться к администрации

    Главная страница